Termékek  »   Mikroszkópia  »   Elektronmikroszkópia  »  

Mikroanalitikai rendszerek (EDX)

Az elektronmikroszkópra szerelhető EDX detektorral szilárd minták, vékony rétegek vagy részecskék elemi összetétele vizsgálható mikrométeres felbontással.

A Bruker Nano cég QUANTAX termékcsaládját forgalmazzuk, mely innovatív technológiája és az elkötelezett terméktámogatás következtében hamar sikeressé vált Európában és Magyarországon is.

Komplett rendszerek szállításán túl vállaljuk régi EDX rendszerek upgrade-jét a legkorszerűbb számítógépes vezérléssel és adatfeldolgozással.

A Bruker Quantax EDX rendszer

Analitikai lehetőségek:

  • Minőségi analízis
  • Mennyiségi kiértékelés sztenderdek nélkül és sztenderdekkel
  • A kiértékelési stratégiák szerkesztése
  • Vonalmenti scan és mennyiségi vonalmenti scan
  • Elemtérkép és mennyiségi elemtérkép
  • Automatikus többpont-analízis
  • Részecske– és fázisanalízis
  • Képalkotás akár 4000×4000 pixel felbontással

A QUANTAX rendszer hatékony analitikai eszköztárát az intuitív ESPRIT felhasználói felület, projektkezelő, jegyzőkönyvszerkesztő és távoli hozzáférés egészíti ki.

A hardver lelke a folyékony nitrogént nem igénylő ultragyors XFlash detektor. Két legfőbb előnye a hagyományos detektortípusokkal szemben:

Az új XFlash 5010 detektor
  • Sokkal nagyobb beütésszámot képesek feldolgozni holtidő nélkül, így pl. egy elemtérkép több óra helyett már percek alatt elkészülhet.
  • Teljesen gondozásmentes üzem, nagy megbízhatóság.

Az XFlash detektor az SDD (szilícium drift dióda) technológián alapul. A detektor az előerősítő félvezető elemmel integráltan készül el, azokat közös Peltier–elem hűti. A jelformálást és jelfeldolgozást egy erre a célra tervezett hibrid (analóg+digitális) elektronika végzi, így valósítható meg a kellően kis holtidő.

A Bruker új 5010 detektorával egyedülállóan jó, 123 eV felbontás érhető el akár 100.000 cps beütésszámig!

További részletek a gyártó honlapján.